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NF C26-145-3-2-1998 电气用塑料薄膜规范.第3部分:专用材料规范.活页2:电绝缘用平衡双轴取向聚乙烯对苯二甲酸酯薄膜的要求

作者:标准资料网 时间:2024-05-26 15:38:57  浏览:9452   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Specificationforplasticfilmsforelectricalpurposes.Part3:specificationsforindividualmaterials.Sheet2:requirementsforbalancedbiaxiallyorientedpolyethyleneterephtalate(PET)filmsusedforelectricalinsulation.
【原文标准名称】:电气用塑料薄膜规范.第3部分:专用材料规范.活页2:电绝缘用平衡双轴取向聚乙烯对苯二甲酸酯薄膜的要求
【标准号】:NFC26-145-3-2-1998
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1998-07-01
【实施或试行日期】:1998-07-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K15
【国际标准分类号】:29_035_20
【页数】:14P;A4
【正文语种】:其他


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【英文标准名称】:DesignatingShapesandSizesofNongraphiteCounterElectrodes
【原文标准名称】:非石墨反电极的形状和尺寸的标示
【标准号】:ASTME1059-1991
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1991
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:工艺;精整;形状;电极;表面
【英文主题词】:surfaces;shape;finishes;electrodes;processes
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q51
【国际标准分类号】:29_220_00
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:硅外延片缺陷图集
英文名称:Defect graph for silicon epitaxial wafers
中标分类:
发布日期:1980-05-27
实施日期:1980-05-27
首发日期:
作废日期:
出版日期:
页数:15页
适用范围

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