DIN 50441-4-1987 半导体工艺用材料的检验.半导体圆片几何尺寸的测量.圆片直径和扁片厚度

作者:标准资料网时间:2024-05-19 03:34:36 浏览:9674 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology;measurementofthegeometricdimensionsofsemiconductorslices;diameterandflatdepthofslices
【原文标准名称】:半导体工艺用材料的检验.半导体圆片几何尺寸的测量.圆片直径和扁片厚度
【标准号】:DIN50441-4-1987
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1987-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;无损检验;材料;试验;半导体工艺;规范(审批);定义;测量;高度;检验;厚度测量;厚度;试验设备;直径测量;直径
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语

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标准名称：	置换型防锈油人汗置换性能试验方法
中标分类：	石油 >> 石油产品 >> 真空油脂、防锈油脂
替代情况：	SY 2754-82
发布日期：	1900-01-01
实施日期：	1992-05-20
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	1900-01-01
出版日期：	1900-01-01
页数：	2页